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德國菲希爾臺式測厚儀X射線XDL系列信息
點擊次數:266 更新時間:2025-04-15

X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀,采用手動或自動方式,測量和分析印刷電路板、防護及裝飾性鍍層及大規模生產的零部件上的鍍層。

FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 210

FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 220 

FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 230  

FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 240

FISCHERSCOPE X-RAY XDL是一款應用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它非常適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析,同時還能全自動檢測大規模生產的零部件及印刷線路板上的鍍層。

XDL系列儀器特別適用于客戶進行質量控制、進料檢驗和生產流程監控。

典型的應用領域有:

測量大規模生產的電鍍部件

測量超薄鍍層,例如:裝飾鉻

測量電子工業或半導體工業中的功能性鍍層

全自動測量,如測量印刷線路板

分析電鍍溶液

XDL系列儀器有著良好的長期穩定性,這樣就不需要經常校準儀器。

比例接收器能實現高計數率,這樣就可以進行高精度測量。

由于采用了FISCHER基本參數法,因此無論是對鍍層系統還是對固體和液體樣品,儀器都能在沒有標準片的情況下進行測量和分析。


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